提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL-STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准

科睿检测可以提供完整的半导体产品可靠性试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL-STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。

常见的老化寿命试验

高温寿命试验(HTOL,High Temperature Operation Life)

低温寿命试验(LTOL，Low Temperature Operation Life)

早天失效率试验(ELFR，Early Life Failure Rate)

环境应力试验

可靠度试验前处理(Precondition Test)

温度循环试验(Temperature Cycling Test)

温湿度偏压试验(Temperature Humidity Bias Test)

高低温贮存试验 (High/Low Temperature Storage Test)

耐热性试验(Thermal Resistance Test)

封装品质试验

焊锡性试验(Solderability Test)

沾锡天平试验 (Wetting Balance Test)

推拉力试验(Pull /Shear Test)

无铅制程试验(Pb-Free Test)

可靠性测试项目

1.老化寿命试验

2.驱动芯片(Driver lC) MIP| 可靠性老化服务

3.环境试验

4.车用电子可靠性试验

5.产品寿命预估